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走査電子顕微鏡関連装置が日本顕微鏡学会「第1回 顕微鏡遺産」に認定
日立ハイテクが所蔵する「電界放出型走査電子顕微鏡 HFS-2」、「超高分解能走査型電子顕微鏡UHS-T1型」、「臨界点乾燥器(愛称:ドカン)」の3装置が、公益社団法人日本顕微鏡学会 の「第1回 顕微鏡遺産」として認定され、6月4日に認定証授与式が行われました。
「顕微鏡遺産」とは、日本顕微鏡学会が2024年に創立75周年を迎えることを記念し、顕微鏡学の発展に大きく貢献したエポックメーキングな技術や製品を、文化遺産として後世に伝えることを目的に導入した認定制度です。
認定された装置について紹介します。
【電界放出型走査電子顕微鏡 HFS-2】
HFS-2 は1972年に日立が世界で初めて商用化した、電界放出型電子銃を備えた走査電子顕微鏡(FE-SEM)です。1970年にシカゴ大学のA.V.Crew教授により開発された電界放出型電子銃を搭載したことで走査電子顕微鏡(SEM)の分解能を大きく向上させました。
新たに電界放出型電子銃を採用したことで電子線をより小さく絞り込むことが可能になり、それまでの熱電子放出型電子銃を搭載したSEMと比較して分解能を5倍向上させ、微細構造観察の世界を新たな段階に押し上げました。いまやFE-SEMは医学生物学、ナノテクノロジー、半導体デバイス観察に欠かせない観察装置となりましたが本機種はその先駆けとなった装置と言えます。
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【超高分解能走査型電子顕微鏡UHS-T1型】
UHS T-1は1985年に鳥取大学の田中敬一先生と共同開発したFE-SEMです。電界放出型電子銃に加え、より分解能を向上させるため、インレンズ型と呼ばれる対物レンズを初めて採用したFE-SEMで、当時の商用機で世界最高分解能(0.5nm)を実現した装置です。
インレンズ型と呼ばれる対物レンズをSEMに搭載したことで、それまで2nmが限界とされていたSEMの分解能を0.5nmまで向上させ、観察可能領域をさらに拡張しました。この性能を以てエイズウィルスの立体構造を世界で初めて観察し(1985年)、当時の新聞に掲載されるなど社会に大きなインパクトを与えました。後年も免疫グロブリン(1989年)やDNA二重らせん構造(1991年)を世界で初めて走査電顕で捉えることに成功し、FE-SEMの有用性を世界に知らしめた装置です。
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【臨界点乾燥器(愛称:ドカン)】
臨界点乾燥装置は生物試料の形態を維持して乾燥を行う装置です。Anderson式といわれる方式を鳥取大の田中敬一先生が独自に改良して1971年に製作されたものです。本装置をベースとして日立はHCP-1という臨界点観察装置をのちに製品化しています。
良好なSEM試料を作製するために表面張力を発生させない乾燥法を実現した国産初の装置であり、本装置を使った最初の報告は、1972年に顕微鏡学会(旧電子顕微鏡学会)の欧文誌J. Electron Microscopyに発表されました。多くの研究論文執筆に活用された臨界点乾燥装置(日立HCP型臨界点乾燥器)のプロトタイプでもあり、日本におけるSEMを用いた細胞・組織の3D微細形態解析の礎を作り、医学生物学領域における顕微鏡学の学術的・技術的発展に大きく貢献した装置です。
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これらの装置は、すべて那珂地区にある「アドバンスドテクノロジーイノベーションセンター那珂」に保管されており、現有する装置として今回の顕微鏡遺産に応募申請しました。
この他にも、UHS-T1型の共同開発先である鳥取大学の田中敬一先生がご自身の「田中SEM研究所」でご使用されていた走査電子顕微鏡であるS-2460N(米子市児童文化センター所蔵)や、日立製装置である、透過型電子顕微鏡HU・11B形(東北大学 多元物質科学研究所所蔵)も顕微鏡遺産として認定を受けています。
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